부품개요
■ LCD Panel에 기구적으로 Contact하여 전기적인 신호를 인가하여 점등 후 제품의 양.불을 결정할수 있도록 하는 LCD검사용 부품
■ 제품유형 : Needle, 인치가변형 UNIT, SPU, 가변 Pitch

당사 Solution
■ 최소 20마이크로 COG Type 개발완료, 고정밀 Fine Pitch
■ 기존방식(Pin)을 탈피한 Blade Type 및 MEMS 기술 접목
■ 탐침의 보호 및 Pin Miss 방지를 위한 Wafer Slot 방식
■ 저가용 Probe Unit 개발 완료 특허출원중 (한국,대만, 중국)
   → 기존 대비 10% 이상 가격 경쟁력 확보
■ 무인자동 검사장비용 Sorting Bar Probe Unit 기술 보유
   → 2008년 1월, 2월 Probe Unit 특허 출원 신청(3건)

향후 기술 과제
■ 호환성 향상
■ Pin Miss없는 고정밀 Probe Unit 개발
■ 당사 Probe Unit Block Name : BMU
   → 의미 : Blade와 MEMS의 장점을 살린 유니트